ETALON TCM200測量顯微鏡 產 品 說 明 模塊化結構設計 可根據需要進行光學長度測量或表面金相檢驗。高品質遠心物鏡,優(yōu)化的照明系統(tǒng)。配備精密滾珠軸承工作臺(150X100 250X150mm 兩種量程)。增量式金屬光柵尺組成的光電測量系統(tǒng) 計算機內核的數據處理單元 帶RS232 數字輸出 并有內部校準證書。 · 三坐標的非接觸測量無測量力 · 測量分辨率0.5μm或0.00002in · 小的允許誤差保證了測量的高精度 如150mm 長度測量的允許誤差僅為2.6μm · 高承載力和寬大的測量空間 或檢測較高的工件 · 放大倍率達1000倍的表面結構檢驗 光源照明充分 · 視頻攝像系統(tǒng)可進一步進行圖像分析 · 測量臺可手動自同移動或通過絲杠精細微位移,從而實現在每個方向上的快速定位 · 帶安裝卡銷的手鏡可單手輕松轉換 · 插入板帶十字分劃線和同心圓 · 帶數字測量系統(tǒng)的測角裝置 · 中心支撐與用于連接孔徑光闌和干涉縫的插件用于檢驗圓柱直徑 · 光纖照明避免了照明產生的熱量 · 透射光,同軸反射光,斜射光和環(huán)型光照明呈現圖象,有亮區(qū)/暗區(qū),同時帶或不帶偏振肖或干涉對比DIC · 的小巧計數裝置適合2和3坐標 · 用于計算機單元的數據處理軟件 主機及其配置: 訂貨號/Order Number 06839006 06839007 06839008 06839009 帶雙目鏡的主機 √ √ √ √ 35瓦透射冷光源 √ √ √ √ 90瓦反射冷光源 √ √ √ √ 測量范圍為150X100毫米的工作臺 √ √ 測量范圍為250X150毫米的工作臺 √ √ 可進行Z軸測量 √ √ 數據處理單元 QUADRA-CHECK 220 √ √ QUADRA-CHECK 230 √ √ 主機技術指標: 訂貨號 06839006 06839007 06839008 06839009 測量范圍(mm) 150 X 100 250 X 150 150 X 100 250 X 150 軸向大允許誤差 (1.8+0.005L) μm (2.5+0.01L) μm (1.8+0.005L) μm (2.5+0.01L) μm 主機重量 110kg 140kg 110kg 140kg 外型尺寸(mm) (寬X高X深)356 X 662 X 540
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ETALON TCM200測量顯微鏡
產 品 說 明
模塊化結構設計 可根據需要進行光學長度測量或表面金相檢驗。高品質遠心物鏡,優(yōu)化的照明系統(tǒng)。配備精密滾珠軸承工作臺(150X100 250X150mm 兩種量程)。增量式金屬光柵尺組成的光電測量系統(tǒng) 計算機內核的數據處理單元 帶RS232 數字輸出 并有內部校準證書。
· 三坐標的非接觸測量無測量力
· 測量分辨率0.5μm或0.00002in
· 小的允許誤差保證了測量的高精度 如150mm 長度測量的允許誤差僅為2.6μm
· 高承載力和寬大的測量空間 或檢測較高的工件
· 放大倍率達1000倍的表面結構檢驗 光源照明充分
· 視頻攝像系統(tǒng)可進一步進行圖像分析
· 測量臺可手動自同移動或通過絲杠精細微位移,從而實現在每個方向上的快速定位
· 帶安裝卡銷的手鏡可單手輕松轉換
· 插入板帶十字分劃線和同心圓
· 帶數字測量系統(tǒng)的測角裝置
· 中心支撐與用于連接孔徑光闌和干涉縫的插件用于檢驗圓柱直徑
· 光纖照明避免了照明產生的熱量
· 透射光,同軸反射光,斜射光和環(huán)型光照明呈現圖象,有亮區(qū)/暗區(qū),同時帶或不帶偏振肖或干涉對比DIC
· 的小巧計數裝置適合2和3坐標
· 用于計算機單元的數據處理軟件
主機及其配置:
訂貨號/Order Number 06839006 06839007 06839008 06839009
帶雙目鏡的主機 √ √ √ √
35瓦透射冷光源 √ √ √ √
90瓦反射冷光源 √ √ √ √
測量范圍為150X100毫米的工作臺 √ √
測量范圍為250X150毫米的工作臺 √ √
可進行Z軸測量 √ √
數據處理單元 QUADRA-CHECK 220 √ √
QUADRA-CHECK 230 √ √
主機技術指標:
訂貨號 06839006 06839007 06839008 06839009
測量范圍(mm) 150 X 100 250 X 150 150 X 100 250 X 150
軸向大允許誤差 (1.8+0.005L) μm (2.5+0.01L) μm (1.8+0.005L) μm (2.5+0.01L) μm
主機重量 110kg 140kg 110kg 140kg
外型尺寸(mm) (寬X高X深)356 X 662 X 540