京都玉崎株式會社

香港京都玉崎集團(tuán)有限公司

深圳市京都玉崎電子有限公司

Shenzhen KyoTo TamaSaki Electronics Co.,Ltd

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Otsuka大塚電子型號大全:

環(huán)形電位、粒徑、分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000ZS

單元電位測量系統(tǒng)ELSZ-2000Z

動(dòng)態(tài)光散射亮度計(jì)DLS-8000series

濃厚的粒徑分析儀FPAR-1000

纖維光學(xué)動(dòng)態(tài)光散射亮度計(jì)FDLS-3000

紅寶石自動(dòng)取樣的濃厚的粒徑分析儀FPAR-1000AS

動(dòng)態(tài)光散射亮度計(jì)DLS-6500series

粒徑分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000S

光散亂光度計(jì)SLS-6500HL

高感度示差屈折計(jì)DRM-3000

可拉利電氣泳動(dòng)系統(tǒng)Agilent 7100

多信道分光器MCPD-9800

多信道分光器MCPD-6800

高感度分光放射輝度計(jì)HS-1000

反射分光膜厚計(jì)FE-3000

膜厚顯示器FE-300

嵌入式膜厚顯示器FE-300

膜厚檢測應(yīng)用多信道分光器MCPD series

顯微鏡光譜的厚度計(jì)OPTM series

光譜儀FE-5000/5000S

光譜干擾式晶片膜厚計(jì)SF-3

450mm晶片檢查裝置SF-450M

微晶片厚度檢查裝置SF-3000M

全光束測定系統(tǒng)HM/FM series

發(fā)光熒光測定用途多信道光譜儀MCPD series

分光配光測定裝置GP series

高速螺栓測量系統(tǒng)GP-7 series

發(fā)光熒光測定用途多信道光譜儀

壽命檢查裝置IESNA LM-80

量子效率測試系統(tǒng)QE-2000/2100

單線熒光薄膜檢查系統(tǒng)DF-1000

高靈敏度NIR量子效率測量系統(tǒng)QE-5000

單粒子熒光診斷系統(tǒng)NIMS

量子系統(tǒng)ELSZ-PT

高速LED光學(xué)特性監(jiān)控裝置LE series

濾色器光譜特性測量裝置LCF series

彩色測量用多信道分光器MCPD series

小區(qū)間隙檢查裝置RETS series

LCD評估裝置(面板模塊檢查)LCD series

黑色亮度的調(diào)光變化測定裝置GC-1

動(dòng)畫特性測定裝置MPRT-2000

動(dòng)畫解像度評估裝置MR-2000

透射率、接收、外光譜測量儀MCPD series

反射率測定用途多信道分光器MCPD series

膜厚度測定系統(tǒng)FE-3700/5700

快速反應(yīng)檢測裝置RE-200

相位差膠卷光學(xué)材料檢查裝置RETS-100

顯微鏡光譜的厚度計(jì)OPTM series

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光源部：EYE巖崎、SEN日森、USHIO牛尾、REVOX萊寶克斯、CCS希希愛視、SERIC索萊克、TOPCON拓普康、NDK電色、ORIHARA折原、LUCEO魯機(jī)歐、FUNATECH船越龍、SAKAZUME坂詰電子、HIKARIYA光屋、KKIMAC、DNP大日本科研

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科儀部：EYELA東京理化、DRY-CABI德瑞卡比、T&D天特、ASKER高分子計(jì)器、KUSANO草野科學(xué)、IMV艾目微，AND愛安得、OBISHI大菱、TAKASAGO高砂、ASONE亞速旺、ELMEX安科生物、SAKURAI櫻井、NS日本精密科學(xué)、SONIC索尼克、SIBATA柴田、SANSYO三商、HEIDON新東