供應(yīng)Langer 靜電場耦合  P331 L-ESD set

Langer ESD 200 ps型場耦合探頭組中包含的場源產(chǎn)生快速電場的和磁場的靜電放電脈沖場（200 ps）。這些場可以確定地、可復(fù)現(xiàn)地加載在集成電路上，從而確定集成電路對靜電放電場的抗干擾性。 其背景是扁平元件組和電子設(shè)備的靜電放電場抗干擾性。這些設(shè)備要經(jīng)受靜電放電測試（IEC 61000-4-2）。

供應(yīng)Langer 靜電場耦合  P331 L-ESD set

測試時與扁平元件組耦合的靜電放電干擾會產(chǎn)生除標準靜電放電脈沖場之外的快速電場和磁場（200 ps）。產(chǎn)生的場作用于扁平元件組的表面，并且能穿過集成電路的外殼。若這些場穿過集成電路，則在集成電路中產(chǎn)生干擾過程。 因此除了在集成電路引腳上的與電路耦合的靜電放電干擾之外，磁場和電場對集成電路的影響也是一個很主要的干擾途徑。